Kutatási területek

Fizikai optika

Optikai adattárolás
Akusztooptikai modulátorok, deflektorok, Q-kapcsolók, mode-locker-ek, fsec impulzusalak formálók szûrõk
Integrált optikai, hullámvezetõ eszközök, száloptikai rendszerek
Optikai jelfeldolgozás
Új optikai technológiák
Optikai rendszerek modellezése és tervezése
Nemlineáris optikai eszközök
Biológiai anyagok fotoakusztikai és idõfelbontásos fluoreszcens spektroszkópiája
Fényforrások
Optikai méréstechnikák
Optikai orvosdiagnosztikai eljárások
Lézeres anyagmegmunkálás
Koherens infravörös differenciális abszorpciós LIDAR
Holográfia
Spektroszkópiai méréstechnikák (NIR, VIS,fluoreszcencia, LIBS,színmérés)
Displayek
Napelemek

Szilárdtestekben elõforduló hibák és felületek tulajdonságainak vizsgálata kvantummechanikai számításokkal
Felületi összetevõk vizsgálata szekunder-ion tömegspektroszkópiai (SIMS), Auger elektronspektroszkópiai (AES, SAM) és röntgen fotoemissziós spektroszkópiai (XPS) módszerekkel
In situ plazmadiagnosztika és gázanalízis QMS-sel (IBMS)
Széles tiltottsávú félvezetõk alkalmazásorientált vizsgálata
Félvezetõ oxidok gázszenzorként való alkalmazásának vizsgálata
Szilárd elektrolit kondenzátoroknak használt új anódanyagok oxidációs tulajdonságainak vizsgálata
Korrózió és szennyezõdés vizsgálata kisüléses lámpákban
Hõátadás kísérleti és elméleti vizsgálata plazmákban és szerkezeti anyagokban
Funkcionális üvegbevonatok kísérleti és elméleti vizsgálata
Kvadrupól tömegszűrők, SIMS berendezések valamint GC/MS tömegspektroéterek tervezése
Kvadrupól és TOF tömegspektroéterek, valamint tömegszűrők tervezése
Ion és elektron optikák tervezése
Számítógépes programok készítése adatgyûjtésre és kiértékelésre, szabályozásra és képfeldolgozásra
Félvezető méréstechnika